LVS Devices

IHP Open Source PDK

130nm BiCMOS Technology

IHP-SG13G2

LVS Devices

Contents

• 1. General
  • 1.1. Purpose
  • 1.2. Abbreviations
  • 1.3. Derived Layers
  • 1.4. Glossary of Terms
• 2. Layers
  • 2.1. Layers Definition
  • 2.2. Layout Layers
• 3. Truth Table for SG13G2 SiGe BiCMOS Process
• 4. Devices
  • 4.1. MOSFET Devices
    • 4.1.1. nmos
    • 4.1.2. nmosHV
    • 4.1.3. pmos
    • 4.1.4. pmosHV
  • 4.2. RFMOSFET Devices
    • 4.2.1. rfnmos
    • 4.2.2. rfnmosHV
    • 4.2.3. rfpmos
    • 4.2.4. rfpmosHV
  • 4.3. BJT Devices
    • 4.3.1. npn13G2
    • 4.3.2. npn13G2L
    • 4.3.3. npn13G2V
    • 4.3.4. pnpMPA
  • 4.4. Diode Devices
    • 4.4.1. dantenna
    • 4.4.2. dpantenna
    • 4.4.3. schottky_nbl1
  • 4.5. Resistor Devices
    • 4.5.1. rhigh
    • 4.5.2. rppd
    • 4.5.3. rsil
    • 4.5.4. lvsres
  • 4.6. Capacitor Devices
    • 4.6.1. cmim
    • 4.6.2. rfcmim
    • 4.6.3. SVaricap
  • 4.7. ESD Devices
    • 4.7.1. diodevdd_2k
    • 4.7.2. diodevdd_4k
    • 4.7.3. diodevss_2k
    • 4.7.4. diodevss_4k
    • 4.7.5. idiodevdd_2k
    • 4.7.6. idiodevdd_4k
    • 4.7.7. idiodevss_2k
    • 4.7.8. idiodevss_4k
    • 4.7.9. nmoscl_2
    • 4.7.10. nmoscl_4
    • 4.7.11. scr1
  • 4.8. Inductor Devices
    • 4.8.1. inductor
    • 4.8.2. inductor3
  • 4.9. Tap Devices
    • 4.9.1. ptap1
    • 4.9.2. ntap1
• 5. Klayout-LVS
  • 5.1. Folder Structure
  • 5.2. Prerequisites
  • 5.3. Installation
  • 5.4. Usage
    • 5.4.1. CLI
    • 5.4.2. GUI
  • 5.5. LVS Testing
    • 5.5.1. Folder Structure
    • 5.5.2. Devices Status
    • 5.5.3. Devices Regression Usage
    • 5.5.4. Cells Regression Usage
      • 5.5.4.1. LVS Outputs